奧林巴斯可更換延遲塊測(cè)厚探頭V260-SM V260-RM V260-45

優(yōu)勢(shì)
• 強(qiáng)阻尼探頭加上延遲塊可以提供的近場(chǎng)分辨率。
• 較高的探頭頻率提高了分辨率。
• 直接接觸法可提高測(cè)量薄材料及發(fā)現(xiàn)細(xì)小缺陷的能力。

• 具有外形吻合性能，適用于曲面工件。

應(yīng)用
• 精確測(cè)厚。
• 垂直聲束缺陷探測(cè)。
• 對(duì)接觸區(qū)域有限的工件進(jìn)行檢測(cè)。

奧林巴斯可更換延遲塊測(cè)厚探頭V260-SM V260-RM V260-45

sonopen可更換延遲塊探頭

• 聚焦的可更換延遲塊。
• 探頭直徑極小的特點(diǎn)可以提高在曲面及小缺口上的檢測(cè)性能。

• 手柄可以方便探頭頭部的定位。

頻率   晶片尺寸        標(biāo)稱           探頭 

MHz    英寸     毫米   平直手柄   直角手柄   45° 手柄

15    0.125     3    V260-SM   V260-RM    V260-45

SLH-V260-SM*裝有彈簧的支架，*僅與V260-SM一起使用

* 高溫延遲塊可在溫度高達(dá)175°C（350°F）的情況下使用。

帶有手柄組合件的延遲塊探頭
這些探頭用于伸到空間極其狹小的區(qū)域進(jìn)行探測(cè)，如：
相距很近的渦輪葉片。探頭可旋轉(zhuǎn)的頭部提高了
其在狹小區(qū)域接觸被測(cè)工件的能力。

 

頻率    標(biāo)稱    延遲塊長度   探頭工件編號(hào) 

      晶片尺寸

MHz    英寸   毫米   微秒 

20     0.125   3    1.5     M2054           

20     0.125  3    4.5     M2055

20     0.125  3    4.0     V2034

美國達(dá)高特 

公司是一間專門生產(chǎn)工業(yè)上所使用的測(cè)厚儀及探傷設(shè)備. 儀器是采用超聲波技術(shù),不需將工件損壞就能作出探傷檢查或用作工件厚度或長度測(cè)量。

產(chǎn)品系列

超聲波測(cè)厚儀ZX系列   ZX-3 / ZX-5 / ZX-5DL

超聲波測(cè)厚儀ZX系列   ZX-6 / ZX-6DL

多功能精密超聲測(cè)厚儀PVX

多功能超聲測(cè)厚儀系列

A/B掃描超聲波測(cè)厚儀MVX

多功能涂層超聲測(cè)厚儀CMX

多功能涂層A/B掃描超聲測(cè)厚儀CMX DL+

MINI-MAX超聲螺栓應(yīng)力測(cè)試儀

PR-8V精密超聲測(cè)厚儀

UMX-2 超輕量式水下測(cè)厚儀

深圳市泰立儀器儀表有限公司 - 代理許多高科技儀器和設(shè)備，其中尤以無損檢測(cè)和

金相理化設(shè)備為主。包括：超聲、渦流、漏磁、磁粉、射線、金相樣、光譜等等。